
產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)
PRODUCT CLASSIFICATION相關文章(zhang)
RELATED ARTICLES產(chan)品(pin)中(zhong)心/ products
您的(de)位置(zhi):首(shou)頁(ye) - 產(chan)品(pin)中(zhong)心 - - NSG3040 - surge浪(lang)湧(yong)測(ce)試(shi)儀(yi)

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao):
更新時間(jian):2025-12-30
訪(fang)問(wen)量:1471surge浪(lang)湧(yong)測(ce)試(shi)儀(yi)介紹(shao):
Teseq公(gong)司(si)的(de)NSG 3040是(shi)抗擾度測(ce)試(shi)中(zhong)的(de)模擬電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)影響的(de)多功(gong)能發生(sheng)器,它(ta)操作(zuo)簡(jian)便(bian)、具(ju)有多種(zhong)功(gong)能,滿(man)足企(qi)業、國內和標(biao)準(zhun)(包(bao)括的(de)IEC/EN標準(zhun))和CE標(biao)誌測(ce)試(shi)的(de)傳導(dao)EMC測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)。NSG 3040采用了(le)特(te)測(ce)公(gong)司(si)設(she)計(ji)理(li)念(nian)包(bao)含(han)了(le)電(dian)子快速(su)瞬(shun)變(bian)(EFT)和電(dian)能(neng)質(zhi)量測(ce)試(shi) (PQT)。豐(feng)富的(de)擴展功(gong)能使該系(xi)統提(ti)供更廣(guang)泛的(de)應(ying)用配置(zhi)範(fan)圍(wei)。
創新的(de)模塊(kuai)化(hua)設計-NSG 3040是(shi)多用途(tu)系(xi)統,可(ke)以按(an)照基(ji)本測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu)配置(zhi)和擴(kuo)展以滿(man)足復雜(za)的(de)測(ce)試(shi)實驗(yan)室(shi)的(de)需求(qiu)。成熟(shu)的(de)“主—從(cong)”概念(nian)技術(shu)使得單(dan)個脈(mai)沖模塊(kuai)能(neng)夠(gou)獨(du)立(li)校準(zhun),並將校準(zhun)資料(liao)和修(xiu)正系(xi)數(shu)存儲(chu)於(yu)從(cong)控制(zhi)器上(shang)。新模塊(kuai)安(an)裝簡便,無需返(fan)回整NSG3040個系(xi)統(tong)進(jin)行(xing)校準(zhun)。
由於(yu)采用技術(shu)組(zu)件,NSG 3040在開關切換技術(shu)和相(xiang)位(wei)精度方(fang)面建(jian)立(li)了(le)新的(de)標準(zhun),並且超(chao)越(yue)了(le)現(xian)行(xing)標準的(de)要求(qiu)。高畫質及(ji)對比(bi)度的(de)7“大(da)彩色(se)觸摸(mo)顯(xian)示屏(ping)使得NSG 3040的(de)操作(zuo)非(fei)常(chang)簡便(bian)。根(gen)據(ju)要求(qiu),既(ji)可(ke)以通過(guo)壹(yi)體化(hua)鍵盤(pan)也可(ke)以用帶有靈(ling)敏(min)度調整鍵(jian)的(de)滾(gun)輪(lun)來進(jin)行(xing)輸入。此(ci)外,在開發環境(jing)下,通過(guo)內置(zhi)的(de)TA(測(ce)試(shi)程(cheng)序調(tiao)用)功(gong)能,幾(ji)個“點(dian)擊(ji)”就(jiu)能激活標(biao)準(zhun)測(ce)試(shi),迅(xun)速(su)、可(ke)靠(kao)地得(de)到結(jie)論(lun)性結(jie)果。
便捷(jie)的(de)觸摸(mo)按(an)鈕使輸入的(de)每個參數(shu)的(de)值(zhi)非(fei)常(chang)明(ming)顯(xian),並允(yun)許(xu)用戶(hu)快速(su)選(xuan)擇和修(xiu)改(gai)所有的(de)設置(zhi)。該操(cao)作(zuo)不(bu)需(xu)要(yao)觸(chu)控筆,測(ce)試(shi)參數(shu)可(ke)以迅(xun)速(su)、簡(jian)便(bian)地(di)編輯(ji)出來(lai)。可(ke)以簡(jian)便(bian)地(di)進行(xing)多步(bu)驟(zhou)測(ce)試(shi)程(cheng)序的(de)增加(jia)、程(cheng)序次(ci)序及(ji)參數(shu)值(zhi)的(de)修(xiu)改(gai)。在“專(zhuan)家模(mo)式”下(xia),用戶(hu)可(ke)以在測(ce)試(shi)中(zhong)使用滾(gun)輪(lun)進行(xing)手動參數(shu)修(xiu)改(gai),從(cong)而有效(xiao)、迅(xun)速(su)地(di)簡(jian)化(hua)激活關(guan)鍵(jian)閾值(zhi)。
通過(guo)SD讀卡器可(ke)迅(xun)速(su)進(jin)行(xing)固件下載。可(ke)以完(wan)整(zheng)的(de)保(bao)存(cun)由(you)用戶(hu)的(de)測(ce)試(shi)。在存(cun)儲(chu)空間(jian)不夠(gou)的(de)特(te)殊情(qing)況下(xia),可(ke)用市場購(gou)買的(de)SD記憶卡更換該記憶卡,而存放其(qi)中(zhong)的(de)測(ce)試(shi)文件(jian)可(ke)被(bei)輕(qing)松(song)復(fu)制進更大(da)內存(cun)的(de)SD卡中(zhong)。
具(ju)有以太(tai)網(wang)端(duan)口(kou),可(ke)接(jie)受來(lai)自(zi)個人(ren)電(dian)腦的(de)外部(bu)控制(zhi)。Windows軟件簡(jian)化(hua)了(le)測(ce)試(shi)程(cheng)序並(bing)允許(xu)為(wei)各種(zhong)類型(xing)的(de)測(ce)試(shi)編寫復(fu)雜(za)的(de)測(ce)試(shi)序(xu)列(lie)。在測(ce)試(shi)進(jin)程(cheng)中(zhong),操作(zuo)人(ren)員(yuan)可(ke)以進(jin)行(xing)觀察(cha)並在測(ce)試(shi)操(cao)作(zuo)中(zhong)生成(cheng)測(ce)試(shi)報(bao)告(gao),以此(ci)增加測(ce)試(shi)的(de)效率(lv)。
surge浪湧(yong)測(ce)試(shi)儀(yi)參數(shu):
浪湧(yong)組(zu)合波(bo)脈(mai)沖1.2/50~8/20µs(組(zu)合浪湧(yong)脈(mai)沖) — CWM 3450
脈(mai)沖符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5標準(zhun)
NSG3040用於(yu)CE應(ying)用的(de)靈(ling)巧型(xing)4KV解(jie)決方(fang)案
脈(mai)沖電(dian)壓(開路):±200V–4.4kV(以1V為(wei)步(bu)長)
脈(mai)沖電(dian)流(短(duan)路):±100A–2.2kA
阻抗:2/12Ω
極(ji)性:正(zheng)/負/交替
脈(mai)沖重復周(zhou)期:10s–600s(以1s為(wei)步(bu)長)
測(ce)試(shi)時(shi)間(jian):1至9999個脈(mai)沖,不間(jian)斷
相(xiang)位同(tong)步(bu):異步(bu)、同(tong)步(bu)0–359°(以1°為(wei)步(bu)長)
耦(ou)合:外部(bu)/內部(bu)
快速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群測(ce)試(shi) (EFT) 5/50ns—FTM 3425
脈(mai)沖符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標準(zhun)
脈(mai)沖幅度:
±200V–4.8kV(以1V為(wei)步(bu)長)—開路
±100V–2.4kV(50Ω匹(pi)配(pei)系統(tong))
脈(mai)沖群頻率(lv):100Hz–1000kHz
極(ji)性:正(zheng)/負/交替
重復時(shi)間(jian):1ms–4200s (70min)
脈(mai)沖群時間(jian):1us–1999s,單脈(mai)沖,不間(jian)斷
測(ce)試(shi)時(shi)間(jian):1s–1000h
相位(wei)同(tong)步(bu):異步(bu)、同(tong)步(bu)0-359°(以1°為(wei)步(bu)長)
耦(ou)合:外部(bu)/內部(bu)
電(dian)壓暫(zan)降和電(dian)壓跌(die)落(luo) — PQM 3403
符(fu)合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準(zhun)
電(dian)壓暫(zan)降&電(dian)壓跌(die)落(luo):從(cong)EUT輸入電(dian)壓跌(die)至(zhi)0V、0%
選(xuan)配可(ke)選(xuan)自(zi)耦變壓器的(de)Uvar:取決於(yu)型(xing)號(hao)(VAR 3005)
選(xuan)配(pei)步(bu)進式(shi)變壓器的(de)Uvar:0、40、70、80% (INA650x)
峰值(zhi)沖擊電(dian)流能力(li):500A (230V時)
開關時間(jian):1–5µS(100Ω負載(zai))
周(zhou)期時(shi)間(jian):20us至1999s、循(xun)環1至(zhi)99’999次
測(ce)試(shi)時(shi)間(jian):1s–70’000min,1至99’999個周(zhou)期,不(bu)間(jian)斷
重復時(shi)間(jian):40µs–35min、循環1至(zhi)99999次
相(xiang)位同(tong)步(bu):異步(bu)、同(tong)步(bu)0–359°(以1°為(wei)步(bu)長)
電(dian)壓變(bian)化(hua)測(ce)試(shi)(僅(jin)與(yu)VAR 3005系(xi)列(lie)調(tiao)壓器配(pei)合使用)
符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準(zhun)
帶有可(ke)選(xuan)自(zi)耦變壓器的(de)0–265V(以1V為(wei)步(bu)長)、0–115%(以1%為(wei)步(bu)長)
重復時(shi)間(jian):1ms–35min,循環1–99999次(ci)
測(ce)試(shi)持(chi)續時(shi)間(jian):1ms–5s,循環1至(zhi)250周(zhou)期(50Hz)
重復時(shi)間(jian):10ms–10s;1–250周(zhou)期(50Hz),1–300周(zhou)期(60Hz)
測(ce)試(shi)持(chi)續時(shi)間(jian):1s–99999min、1–99999個事(shi)件、不(bu)間(jian)斷
相(xiang)位同(tong)步(bu):異步(bu)、同(tong)步(bu)0–359°(以1°為(wei)步(bu)長)
與(yu)INA753和INA701或(huo)702共(gong)同(tong)產(chan)生(sheng)的(de)脈(mai)沖磁(ci)場
符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9標準(zhun)
場強:1–1200A/m (以1A/m為(wei)步(bu)長)
極(ji)性:正(zheng)/負/交替
重復時(shi)間(jian):5s–10min (以1s為(wei)步(bu)長)
阻抗:2Ω
線圈因(yin)數(shu):0.0 –50.00
測(ce)試(shi)時(shi)間(jian):1– 9’999個脈(mai)沖,不間(jian)斷
相(xiang)位同(tong)步(bu):異步(bu)、同(tong)步(bu)0–359°(以1°為(wei)步(bu)長)
EUT供(gong)電(dian):單(dan)相(xiang)
EUT VAC:24至260Vrms,50/60Hz (相線(xian)—中(zhong)線),大(da)400Hz
EUT VDC:0至(zhi)260VDC
EUT電(dian)流:
1x16Arms,不間(jian)斷(溫(wen)度監控)
1x25Arms,1分(fen)鐘
EFT(脈(mai)沖群) 將所有的(de)線與(yu)參考地(di)進(jin)行(xing)標準耦合(GND)
CONTACT
辦(ban)公(gong)地(di)址(zhi):上(shang)海市虹口區四川北(bei)路1688號(hao)福(fu)德(de)大(da)廈南(nan)樓(lou)805TEL:021-62068083
EMAIL:[email protected]
掃(sao)碼加(jia)微(wei)信(xin)